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CLM asistirá a las II Jornadas Técnicas EE. S. en Madrid

CLM imparte una ponencia el 30 de Abril en Alcalá de Henares (Madrid) sobre el cambio e impacto en el sector de las EE. S. con la nueva ley de metrología. Tokheim Koppens Ibérica realiza las "II Jornadas Técnicas EE. S." enfocadas a acercar a las EE. S. el conocimiento de las nuevas normativas y aportar soluciones orientadas a cubrir las exigencias en el control y la gestión del negocio.


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